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liteScope?

LiteScope?是一種獨特的掃描探針顯微鏡（SPM）事示。 它設計用于輕松集成到各種掃描電子顯微鏡（SEM）中。 組合互補的SPM和SEM技術(shù)使其能夠利用兩者的優(yōu)勢尤吟。使用LiteScope?及其可更換探針系列，可以輕松進行復雜的樣品分析刷寨，包括表面形貌翁骗，機械性能，電性能铭懂，化學成分引笛，磁性能等的表征。LiteScope?的設計還使其可以與其他SEM配件結(jié)合使用聚焦離子束（FIB）或氣體注入系統(tǒng)（GIS）用于制造納米/微結(jié)構(gòu)和表面改性肉诚。在這種組合中决毕，LiteScope?可對制造的結(jié)構(gòu)進行快速簡便的3D檢測忌挺。此外，LiteScope?開辟了一個全新的測量技術(shù)領域留满，可實現(xiàn)相關顯微鏡嫂藏，即所謂的相關探針和電子顯微鏡（CPEM）。 CPEM技術(shù)是市場上首創(chuàng)的技術(shù)喻谭。 它可以在同一個地方進行SPM和SEM測量峻胞，同時，使用相同的協(xié)調(diào)系統(tǒng)关带。 只有CPEM技術(shù)才能為您帶來SPM和SEM技術(shù)相關成像的全部優(yōu)勢侥涵。

特點

? LiteScope?可提高性能的SEM升級

• 可作為現(xiàn)有顯微鏡的插件或作為新的SEM使用

• 獨特的相關探針和電子顯微鏡（CPEM）技術(shù)

• 復雜的表面表征- 形貌，粗糙度宋雏，磁性芜飘，導電性，電性能

• 自感應探頭磨总，無需光學檢測嗦明，無需激光調(diào)整
  

• LiteScope?易于安裝到SEM的樣品臺上/從樣品臺中取出

• 兼容FIB，GIS舍败，EDX等配件

• 在傾斜位置（角度0°-60°）招狸，最小工作距離5毫米

• 可伸縮的測量頭可釋放樣品周圍的空間

• 市售探針，種類繁多測量模式

• 快速簡便地更換探頭和樣本

• 用戶友好的軟件邻薯，在網(wǎng)絡瀏覽器中操作裙戏，輕松遠程訪問

• LiteScope?也可作為獨立的SPM使用

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• 相關探針和電子顯微鏡 - CPEM

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LiteScope?是現(xiàn)有SEM儀器工作方式的強大增強功能。 但是厕诡，還有更多的內(nèi)容累榜。相關顯微鏡結(jié)合了使用兩種不同技術(shù)對同一物體成像的好處。來自單獨圖像的數(shù)據(jù)的相關性提供了關于樣本的更詳細信息倘封，否則這些信息將太復雜而無法分析癣辉。NenoVision開發(fā)了獨特的技術(shù)-相關探針和電子顯微鏡（專利申請中）-用于相關成像。CPEM能夠通過SEM和SPM確定樣品區(qū)域的表面特征同時使用相同的協(xié)調(diào)系統(tǒng)帚萧。






CPEM技術(shù)能夠以迄今尚未獲得的方式對標準SEM和SPM方法進行相關成像传起。CPEM同步掃描區(qū)域，分辨率和圖像失真赔膳，并實時關聯(lián)采集的SPM和SEM圖像掺挺。

使用已知恒定偏移和相同分辨率的同時掃描可確保在同一表面上執(zhí)行分析≈罱鳎可以使用我們的NenoView軟件在線直接查看生成的圖像狰丝。